İnce detay yakalama
Optik görüntüleme ve algoritmalar karmaşık yüzeylerde yüksek detay yoğunluğunu destekler.
NimbleTrack-CR, ince detay yakalama ile metroloji sınıfı optik takip ölçümünü birleştiren kablosuz sistemdir; küçük ve orta boy parçalar, karmaşık yüzeyler ve yüksek çözünürlüklü dijitalleştirme için konumlandırılır.

NimbleTrack-CR, ince detay yakalama ile metroloji sınıfı optik takip ölçümünü birleştiren kablosuz sistemdir; küçük ve orta boy parçalar, karmaşık yüzeyler ve yüksek çözünürlüklü dijitalleştirme için konumlandırılır.
Optik görüntüleme ve algoritmalar karmaşık yüzeylerde yüksek detay yoğunluğunu destekler.
Tracker ve scanner tarafındaki kablosuz yapı sahada daha serbest çalışma sağlar.
Marker ihtiyacını azaltan takip tabanlı ölçüm yaklaşımı endüstriyel kontrolde esneklik sağlar.
| Sistem doğruluğu | 0,025 mm’ye kadar |
| Scanner-only doğruluk | 0,020 mm’ye kadar |
| Çözünürlük | 0,010 mm’ye kadar |
| Takip mesafesi | 3.200 mm |
| Tarama alanı | 150 × 190 mm |
| Ultra-fast | 17 mavi lazer haçı |
| Hyperfine | 7 paralel çizgi |
| Hacimsel doğruluk / 3,2 m | 0,064 mm |
| MSCAN ile hacimsel | 0,044 mm + 0,012 mm/m |
Teknik değerler SCANOLOGY güncel ürün sayfasındaki üretici verilerinden derlenmiştir. Konfigürasyon ve performans değerleri proje öncesinde doğrulanmalıdır.
Karmaşık eğriler, küçük kusurlar ve hassas geometrilerin denetimi.
Yüksek çözünürlüklü 3D veri üretimi.
Temassız ayrıntılı sayısallaştırma ve dijital arşivleme iş akışları.